1. 能說明一下數字電橋部份符號標識的釋義嗎？
答：L：電感；C：電容；R：電阻；
B：電納；D：損耗；G：電導；
Q：品質因數； X：電抗；Z：阻抗；θ：相位角；
DC：直流；AC：交流；
FREQ：頻率；STORE：存儲；RECAL：調用儀器設置；
AUTO：自動；MODE：模式；
SER：等效串聯；PAR：等效并聯。
2. 不同的測試頻率對元器件測試有影響嗎？
答：有。
3. 測試電壓不同對元器件測試有影響嗎？
答：有。
4. 對于一個已知的“電容”，使用者應該選用什么樣的測試條件？
答：（1）小于 100pF 電容用 1MHz（如果數字電橋具備這個檔位的話）頻率測量；
（2）中等容量，如 1000pF-10uF 電容，1kHz、10kHz、100kHz 應該選擇選哪
一個檔位，國家標準，測試中等電容的測試頻率標準是 1kHz。電解類，如鋁電
解，鉭電解等用 100Hz 或 120Hz；
（3）從電平的角度來說，大部分電容對測試電平不敏感，因此，不同電平測
試變化不大，但有些介電常數大的電容對測試電平非常敏感，故應根據實際需
要仔細選擇測試電平。一些入門級的數字電橋沒有該選項，只能使用默認測試
電平進行測試。
LCR數字電橋使用問答
5. 測試信號電平是什么意思？
答：施加于被測元器件上的電平是十分重要的。實際施加于被測件上的電平（電
壓或電流）與儀器信號源阻抗有關，雖然儀器電平相同，若信號源阻抗不同，
實際施加于被測件上的電平就不同。
6. 數字電橋測量的準確度如何？
答：測量準確度是反映儀器性能的主要指標之一。確切了解所需儀器的準確度
是準確評價元器件優劣的關鍵。一般來講，儀器本身的準確度應比測量元器件
的技術指標要求高。通常，儀器設備或其宣傳資料給出的參數是在一定條件下
的*高準確度，也就是所謂的理論值。
實際上，無論是數字電橋還是其它設備，參數標稱值與實際值均存在或多
或少的差異，這是使用者應該清楚并注意的。要想了解被測量元器件在測量頻
率下呈現的阻抗、以及對應測量條件下，測試儀器的準確度是否滿足測量要求，
那么，充分了解儀器的測量準確度是極為重要的。
當然，測試準確度與所給定的測試條件密切相關，這一點，同樣不能忽視。
須知，即使是相同基本準確度的儀器，其在不同量值被測元器件和不同頻率下
其準確度是有很大區別的。
7. 什么是損耗？品質因數 Q 值?
答：D、Q 兩者互為倒數，其計算方法為被測元器件的有功功率 PR（電阻器耗能）
與無功功率 PC（電容器儲能）或 PL（電感器儲能）的比值，對串聯和并聯等效
電路使用下式計算：=Rs/|Xs|，D=|Xp|/Rp，D 和 Q 的值與等效方式無關。
8. 怎樣選擇串聯和并聯測試參數?
答：（1）電容測量，可以兩個不同的測試頻率下損耗因子的變化性質來決定，
若頻率升高而損耗增加，則應選用串聯等效電路測試模試；若頻率升高而損耗
減小，則應選用并聯等效電路測試模試。
（2）對于電感來說，情況正好與電容相反。實際中，器件的 D 不可能與頻
率完全成正比關系，其可能有并聯成分，也可能有串聯成分，應看何種成分占
主導地位。
（3）根據元器件的*終使用情況來判定。如用于信號耦合電容，則*好選
擇串聯方式，旁路或并聯諧振則使用并聯等效電路。
（4）約定俗成的習慣是，低阻抗元件用串聯，從數值上說阻抗小于 100 歐
姆用串聯，大于 10 千歐用并聯，阻抗大于 100 歐姆-10 千歐的，根據實際情況
（主要是指元器件的使用場合及使用要求）選擇。
9. 什么叫等效串聯電阻 Rs？等效并聯電阻 Rp?
答：任何一個被測元器件都可以等效為一個串聯電路或并聯電路，串聯電阻 Rs
為串聯等效電路中的電阻部分，Rs 也叫 ESR，并聯電阻 Rp 為并聯等效電路中的
電阻部分，Rp 也叫 EPR。
10. 怎樣選擇測試速度?
答：一般來說，測試速度是以犧牲測試精度為代價的。速度越快，精度越差，
讀數穩定性差，有效位數變少。如果要求測試精度，一般選擇慢速，要考慮測
試速度和測試精度就選擇中速。通常情況下，大多選擇中速檔位進行測試。
11. 儀器為什么要進行清零?
答：（1）由于儀器本身的漂移，會疊加一些雜散成份，如接觸電阻、電感、并
聯電容等，不清零就會有誤差。
（2）短路清零對小阻抗器件更為有效，開路清零對高阻抗器件更有效。
12. 有些 LCR 數字電橋選配 GPIB 接口有什么作用？
答：這種功能大多出現在稍**的電橋上。主要是使設備通過 GPIB 接口和電腦
相連，編寫相應的軟件，可以實現用電腦控制儀器，進行自動測量。對于一般
應用而言，GPIB 接口功能可不必考慮。
13. 什么是負載校準，負載校準應注意哪些問題？
答：負載校準是一種的**的儀器校準方法，可以使儀器在高于儀器原有準確
度的基礎上測量元器件，主要用于下面兩種情況：
（1）當有更準確的元器件并需對同規格元器件進行更高準確度的測量。
（2）統一現場所有 LCR 數字電橋的測試數據。
14. 掃頻清零方式和點頻清零方式有何區別?
答：（1）掃頻一般針對實際測試頻率點比較多的被測元器件，點頻清零一般針
對只要一個頻點的被測元器件；
（2）掃頻清零耗時較長。如同惠 TH2816A 電橋，無論短路清零，還是開路
清零，均采用的是掃頻清零方式。
15. 測量的顯示范圍和精度范圍有何區別?
答：測量的顯示范圍一般大于測試設備所標識的精度范圍。
16. 輸出阻抗不同對測試結果有什么影響？為什么有的儀器有 30Ω和 100Ω
的內阻選擇？
答：（1）儀器輸出阻抗不同，會導致被測元器件上施加的測試信號不同，*終
會導致顯示參數的差異和不同。
（2）測試時，測試信號其實是被測件與儀器內阻輸出阻抗串聯在一起，會
對信號產生分壓作用。因此，低阻抗測試實際加到被測器件上的電平小于設定
電平。30Ω兼容較老款式電橋，100Ω可與進口（如 Agilent）儀器設備匹配。
17. 有些電橋的 P1\P2\P3 有何具體意義?
答：儀器的 P1\P2\P3 用于元器件的**品、二級品、三級品的等級分選。通常
情況下，**品的百分比極限小于二級品極限，二級品的百分比極限小于三級
品極限。
18. 同一電感在不同廠家的 LCR 儀器上用相同測試條件，為什么測試數據會
有很大差別?
答：（1）絕大多數電感都帶有鐵芯磁芯，而帶有鐵芯磁芯的電感對其施加的磁
場非常敏感，磁場與測試信號電流成正比，因此相同電平若內阻不同，電流就
會不一樣，則結果有很大差別。這是客戶電感測試時遇到的普遍問題。
（2）判定儀器測試電感的一致性原則，應該是施加與被測件上的電流要一
致。但有一個特例需要注意，就是空心電感與磁場不在此例。
LCR數字電橋使用問答
19. 為什么有時器件會顯示“-”值?
答: （1）過度清零或不適當的清零。（2）受限于儀器的精準度。
20. 增加測試線的長度對測試有沒有影響？
答：有。一般 LCR 數字電橋出廠時，采用 1 米長的線進行校準，如超過 1 米，
則需要重新校準。
21. 儀器的自動和保持有什么實際作用?
答：儀器的自動檔位，一般用于未知大小的元器件的測試；而保持檔位，一般
用于大小已經確定的元器件測試；保持功能可以提高儀器的測試效率，還可以
起到延長儀器內部繼電器的使用壽命的作用。
22. 電橋的串行軟件有何功能?
答：一些電橋設置有串行接口，供串行軟件和電腦連接使用，以便實現統計分
析或者自動測試功能。
23. 儀器可以測貼片元器件嗎?
答：當然可以，只要配置（大多是選配）專用 SMD 測試夾具就可以測試貼片元
器件了，SMD 測試夾具分為兩端口夾具和四端口夾具。
24. 直流偏置電流源在有些頻率下為何無法清零?
答：交流輸出阻抗頻響不一致，在某些頻率點可能產生諧振，因此，無法完全
清零。
25. 測試信號電平相關性是什么意思？
答：所有元器件均存在信號電平的相關性。即在規定測試頻率下，元器件數值
與信號電平的大小有關。有些元器件對電平的變化不敏感，而有些元器件對信
號電平具有極強的敏感性，如高 K（高介電常數）值的陶瓷電容，高導磁率的電
感器等。因此，對此類器件規定其測量信號電平（電壓或電流）是非常重要的。
26. 測試時，頻率設置越高越準確嗎？
答：不是。測試時，測試頻率高低選擇，取決于被測元器件本身，包括元器件
的使用場合。
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